PRODUCT
レーザー干渉計販売

FlaTester 平面度測定器シリーズ

機械加工、研磨、ポリッシング、超精密加工のサンプル表面形状を迅速かつ正確に測定します。

現代の精密製造において、全体の表面の平坦度を確認する必要がある場合 単線スキャナーや三次元測定器は測定データが少なすぎるため要求を満たすことができません。
当社の FlaTester 平面度測定器は、部品の全体表面を数秒で非接触で測定できます。 さまざまなサイズや複雑な形状も測定可能です。
FlaTester の分解能は 5nm、精度は 50nm に達します。
これにより、平坦度、直線性、半径などのさまざまな表面パラメータを迅速かつ正確に測定でき さまざまな材料や表面処理方式に適用できます。

【主な性能】

非接触、非破壊測定

最大 100μm の動的測定範囲

光学的なレベルの分解能と精度

数秒で全表面特性の測定を実現

半導体ウェーハ、LCD マスク、ガラス、金属
複合材料、セラミックスなど、さまざまな材料を測定可能

機械加工面、研磨面、ポリッシュ面、超滑面など
さまざまなタイプの表面に適用可能

【使いやすく学びやすい】

工具や治具を必要とせず、サンプルを設置するだけで測定可能

ソフトウェアの操作が簡単で、ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、サンプルの 2D および 3D の輪郭を直感的に表示

測定結果は客観的で、オペレーターの操作による影響を受けにくい

生産現場、品質管理、開発検証など多様な場面に適用可能で
製品の品質向上と直通率の向上に寄与します

Product Model FT100 FT200 FT300
Structural Form Inverted
Measurement Method Grazing incidence
Light Source Helium-Neon laser (632.8nm)
Effective Camera
Resolution
1.2K*1.2K 2K*2K
Effective Aperture 100mm 200mm 300mm
Sample Size 25-100mm 25-200mm 50-300mm
Measurement Range >100μm
Accuracy >50nm
Repeatability 15nm (standard deviation)
Measurement Time 5 seconds
Measurement Data
Points
Up to 230,000 points Up to 400,000 points
Measurement
Reference:
Least squares method
Measurable Materials Semiconductor wafers, LCD masks, glass, metals, composite materials, ceramics, etc.
Measurable Surfaces Machined surfaces, ground surfaces, polished surfaces, ultra-smooth surfaces, etc.
Sample Reflectivity R>10% at an incident angle of 85°
Sample Roughness Ra<1.0μm 
Instrument Dimensions
(L x W x H)
700x260x720mm 700x340x720mm 1500x1000x720mm
Instrument Weight 96Kg 110Kg 500Kg
Power Supply 100-240VAC,50/60Hz
Operating Environment
Temperature
15°C - 30°C
Temperature Variation
Rate
<1.0°C/30min
Humidity Not more than 70%